操作中的掉电保护机制
2024-10-2 20:30
- ST MCU
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日志型写入与分散存储
日志型写入(Log-based Write)或称分散存储(Wear Leveling)是通过避免在同一位置 ...
在掉电检测到时,及时保存当前操作状态到 RAM 或立即执行 Flash 写入。
PVD 中断配置示例:
cvoid PVD_Config(void)
{
PWR_PVDTypeDef sConfigPVD;
// 配置 PVD 阈值
...
STM32 内部的 PVD(Programmable Voltage Detector)可以检测电压变化,并在电压低于设定的阈值时产生中断 ...
硬件设计示例:
电压检测器:使用电压检测芯片(如 STM32 的内置 PVD 预警电压检测器)监控电源电压,当电 ...
硬件设计示例:
电压检测器:使用电压检测芯片(如 STM32 的内置 PVD 预警电压检测器)监控电源电压,当电 ...
硬件掉电检测与延时电源
如果系统允许添加硬件设计,掉电检测电路可以作为一种有效的保护措施。当电源即将 ...
在这种机制下,如果校验和不匹配,意味着写入过程中发生了错误,系统可以决定重新擦除并写入数据,或回滚到 ...
校验和示例:
cuint32_t Calculate_Checksum(uint32_t data)
{
// 简单的校验和计算方法
return da ...
数据校验与回滚机制
数据校验与回滚机制可以确保写入操作的原子性。如果在写入过程中数据损坏,可以根据校 ...
示例代码:
c
#define PAGE_A_ADDRESS 0x08020000 // 假设 PageA 的 Flash 地址
#define PAGE_B_ADDRESS ...
实现步骤:
定义两个缓冲区页:设定两个 Flash 页(如 PageA 和 PageB)用于交替存储数据。
读取操作:系统 ...
双缓冲区机制
双缓冲区机制是最常用的掉电保护方法之一,尤其适用于需要频繁更新的数据存储场景。它的原理 ...
掉电保护的设计原则
为了在 Flash 写入过程中实现掉电保护,常见的设计策略包括:
双缓冲区机制:使用两个 ...
问题分析
STM32 的 Flash 写操作分为两个主要步骤:
页擦除:Flash 写入必须在页被擦除的情况下进行,一旦 ...
在嵌入式系统中使用 STM32 的 Flash 存储时,如果在写入操作过程中发生掉电,可能会导致数据丢失或损坏。这 ...
STM32CubeProg编程工具中无法识别目标设备,可能的原因是什么?
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