ADC参考电压飘了会不会测值全错？

1万 · 2025-4-23 07:24

用内部VREF，温度一高电压就不稳了，这样测出来的电压还能信吗？

1万 · 2025-4-23 07:27

看你测多精了，误差1%以内就还行。

1万 · 2025-4-23 07:28

你可以对比内部VREFINT的ADC值看看。

1万 · 2025-4-23 07:29

STM32内部的参考电压偏差还是挺大的。

1万 · 2025-4-23 07:30

有时候电压跳变是供电稳压芯片的问题。

1万 · 2025-4-23 07:30

我在软件里直接做了线性校准。

1万 · 2025-4-23 07:31

量过一批芯片，VREF偏差都不一样。

1万 · 2025-4-23 07:32

你是不是用电池供电？电压不稳也影响。

1万 · 2025-4-23 07:33

最稳的还是外接精准参考源。

1万 · 2025-4-23 07:34

加了温度补偿后能好点。

1万 · 2025-4-23 07:34

我试过，VREF内部参考温漂还挺大的。

只看该作者 · 2025-4-30 23:35

如果参考电压不稳定，那么相同的输入信号会根据不同的参考电压值给出不同的 ADC 输出，导致测量的误差。

只看该作者 · 2025-5-15 18:53

在STM32L4的ADC应用中，内部参考电压（VREFINT）随温度漂移会直接导致测量值失真，但通过补偿算法、硬件优化或外部参考源可显著提升可靠性

只看该作者 · 2025-5-15 19:33

STM32L4的内部VREFINT典型温度系数为±1.5mV/°C（数据手册定义），例如：25°C时VREFINT=1.21V，75°C时可能漂移至1.175V（下降约2.9%）。

只看该作者 · 2025-5-15 20:02

ADC测量误差，若直接使用未校准的VREFINT作为参考，温度每升高10°C，ADC值误差可达0.3%~0.5%（12位ADC满量程4095时，误差约±12~20LSB）

只看该作者 · 2025-5-15 21:21

温度升高后，ADC测量值非线性波动（如电压不变但ADC值持续下降）。

只看该作者 · 2025-5-15 21:59

传感器信号（如电池电压、温度采样）出现系统性偏差，导致控制逻辑误触发

只看该作者 · 2025-5-15 22:00

软件补偿校准表法：在-40°C至125°C范围内，分5个温度点测量VREFINT值，生成查找表（如STM32CubeMX的VREFINT_CAL寄存器仅校准25°C/30°C）。

只看该作者 · 2025-5-15 23:00

.硬件优化，使用高精度低温漂参考源（如REF5025，温度系数0.5ppm/°C），通过ADC通道输入校准。

只看该作者 · 2025-5-16 08:06

.优先使用软件补偿，结合温度传感器和校准表，可满足90%的应用需求。高精度需求必须采用外部基准源（如REF5050），并配合硬件滤波。