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详解锡膏工艺中不润湿现象

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SZfitech123|  楼主 | 2025-4-23 10:48 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
不润湿是指在焊接过程中,焊料未能充分覆盖基板焊盘或器件引脚表面,导致焊料与基底金属之间形成较大的接触角(通常>90°),且未形成有效冶金键合的现象。其典型特征为焊点表面呈现基底金属本色(如铜色、镍色),焊料仅部分附着或呈球状聚集(如图1-1所示)。此问题直接影响焊点的机械强度、热循环可靠性及长期稳定性。


图 1-1 不润湿现象
一、形成机理与核心原因
不润湿的本质是焊料与基底金属间的界面反应受阻,具体原因可分为以下四类:
基底金属表面状态异常
氧化与污染:焊盘或引脚表面存在氧化层(如CuO、NiO)、有机污染物(油脂、助焊剂残留)或金属间化合物(如Au-Sn脆性层)。
镀层缺陷:
ENIG(化学镀镍浸金):镍层孔隙、磷含量超标(>8wt%)或金层过薄(<0.05μm)。
OSP(有机保焊膜):膜层过厚(>0.5μm)或受热分解不完全,阻碍焊料浸润。
HASL(热风整平):焊盘边缘因热应力出现微裂纹,暴露内部氧化铜层。
焊料合金与助焊剂失效
焊料杂质:铝(Al)、镉(Cd)、砷(As)等杂质元素偏析,或焊粉氧化(氧化物含量>0.2wt%)。
助焊剂活性不足:
活性剂(如有机酸、卤化物)浓度过低或高温分解失效。
焊膏印刷后暴露时间过长(>4h),助焊剂挥发或吸湿。
再流焊工艺参数偏差
温度曲线异常:
预热区温度不足(<120℃)或时间<60s,助焊剂未充分活化。
峰值温度过高(>245℃)或液态以上时间(TAL)>60s,加速金属氧化。
气氛控制不当:
氧气含量>1000ppm(未使用氮气保护),导致焊盘高温氧化。
焊接腔体湿度>10%RH,水汽与助焊剂反应产生气孔。
设计与工艺适配性问题
细间距器件:模板开口尺寸<焊盘尺寸(如0.1mm差距),导致焊膏印刷量不足,边缘润湿不良。
混装工艺:BGA与插件器件共炉焊接时,热质量差异导致局部温度不均。

二、影响与风险评估
不润湿对焊点可靠性的影响需结合以下维度评估:


三、系统级解决方案
材料优化
焊盘表面处理:优先选用ENEPIG(镍钯金)或沉银(ImAg),避免纯锡或OSP工艺。
焊料选择:采用SAC305(Sn96.5Ag3.0Cu0.5)合金,控制焊粉氧含量<0.1wt%。
助焊剂升级:使用高活性免清洗助焊剂(如RA型),增强润湿能力。
工艺调控
温度曲线优化:
预热区:120~150℃,时间90~120s。
回流区:峰值温度235~245℃,TAL<45s。
氮气保护:焊接过程维持氧气浓度<500ppm。
设计与工艺适配
模板设计:细间距器件采用阶梯模板(StepStencil),开口尺寸≥焊盘尺寸0.05mm。
印刷参数:刮刀压力0.1~0.2MPa,印刷速度20~50mm/s,确保焊膏填充率>90%。
过程控制
焊前清洁:使用等离子体清洗机去除焊盘表面有机物。
AOI检测:通过3D激光检测焊点体积,结合润湿角算法筛选不良品。

四、典型案例分析
案例1:BGA边角焊球不润湿
现象:X-ray检测发现BGA四角焊球空洞率>30%,润湿角>110°。
根因:模板开口比焊盘小0.15mm,导致焊膏印刷量不足;再流焊峰值温度255℃(超出规格10℃)。
对策:修改模板开口尺寸,降低峰值温度至240℃,空洞率降至5%。
案例2:OSP焊盘润湿不良
现象:引脚焊点呈“缩锡”状,润湿角>90°。
根因:OSP膜层厚度0.8μm(超标0.3μm),助焊剂活性不足。
对策:更换低厚度OSP工艺(0.3μm),升级助焊剂活性等级,润湿角降至45°。
通过材料、工艺与设计的协同优化,不润湿问题可得到有效控制,从而提升焊点的长期可靠性。


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