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HC32L196的ADC 设置问题

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楼主
junzheng|  楼主 | 2025-5-10 14:10 | 只看该作者 回帖奖励 |倒序浏览 |阅读模式
在HC32L196的参考手册中提到:ADC的转换时序如下图所示:一次完整的ADC转换由转换过程及逐次比较过程组成。其中转换过程需要4~12个ADCCLK,由ADC_CRO.SAM配置;逐次比较过程需要16个ADCCLK。需要根据什么情况设置SAM的值呢?

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沙发
zhengshuai888| | 2025-5-10 20:36 | 只看该作者
看下手册的说明,怎么设置。

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板凳
zjsx8192| | 2025-5-11 09:17 | 只看该作者
没看到图片,

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地板
dffzh| | 2025-5-12 09:13 | 只看该作者
在HC32L196的ADC模块中,SAM(ADC_CRO.SAM位)的配置取决于输入信号的特性和应用需求,主要考虑以下因素:
1. 信号源阻抗(关键因素)
高阻抗信号源:若信号源阻抗较大(如传感器输出、分压电路等),采样时间需延长(设置较大的SAM值),确保采样电容充分充电至稳定电压。
低阻抗信号源:若信号直接来自低阻抗源(如运放输出),可缩短采样时间(较小的SAM值)。
参考建议:
信号源阻抗 > 10kΩ时,建议选择较长的采样时间(如SAM=11或12)。
低阻抗信号可尝试SAM=4~6。

2. 输入信号带宽
高频信号需要更短的采样时间以避免失真,但需权衡信号稳定需求。若信号变化缓慢(如温度传感器),可延长采样时间以提高精度。

3. ADCCLK频率
SAM配置的时钟周期数(4~12)需结合ADCCLK频率计算实际时间。例如:
若ADCCLK = 1MHz,每个周期为1μs:
SAM=4 → 4μs采样时间
SAM=12 → 12μs采样时间
总转换时间 = 采样时间(SAM × ADCCLK) + 16个ADCCLK(逐次比较)。

4. 精度要求
高精度应用(如精密测量)建议延长采样时间(SAM=8~12),确保信号充分稳定。
高速采集场景可缩短采样时间,但需验证精度是否达标。

5. 硬件设计
外部RC滤波:若信号路径存在较大滤波电容(如>100pF),需增加采样时间以克服RC延迟。


配置步骤
评估信号特性:测量信号源阻抗及带宽。
计算最小采样时间:根据阻抗和电容估算稳定时间(如T ≥ R × C × ln(2^N),N为ADC分辨率)。
选择SAM值:确保SAM × ADCCLK周期 ≥ 估算时间。
验证结果:通过实验调整SAM,观察转换值是否稳定。


示例场景
温度传感器(高阻抗):
SAM=12,ADCCLK=1MHz → 采样时间=12μs + 16μs(比较)= 28μs/次。
快速采样的低阻抗信号:
SAM=4,ADCCLK=8MHz → 采样时间=0.5μs + 2μs = 2.5μs/次。
通过合理配置SAM,可平衡速度和精度,适配具体应用需求。

以上资料,供你参考,希望有所价值。

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MrChen93| | 2025-5-21 11:26 | 只看该作者
看精度要求,一般周期越长ADC转化的精度就越高

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