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ADC采样不准确硬件修改

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最近有小伙伴在用HC32L13X开发产品时遇到ADC采样不准确的问题,个人觉得这个问题在大多数的开发者中都会遇到,尤其在电池应用兼顾低功耗的场景,今天和小伙伴们分享一下。
1)如下是小伙伴的电路原理图:ADC采用芯片内部电压基准

假设电池满电4.2V,功耗也在UA级别。以大家高级工程师的认知,觉得这个平平无常的电路有问题不?似乎采集得到0.5Vbat肯定能行。但是输出的结果就是采样电压不准确,甚至偏差巨大。
2)接下来我们从ADC的采样原理上来分析并做出电路的优化。
ADC采样本质把外部的电压信息通过电荷转移到ADC内部采样电容上,并得到采样电压。

我们知道电阻越大时间常数τ就越大,当时间常数τ大于ADC的采样周期,采样就会有偏差。
3)后续修改电路:
加一个pmos开关,只有在检测时才使能,兼顾低功耗要求。把采样电阻减少到150K/150K分压。
PS:有关里面的计算公式大家有疑问的可以留言共同探讨一下。

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